隨著現(xiàn)代社會(huì)電子設(shè)備的增多，確保各種電子設(shè)備不相互干擾并不容易。這一困難不僅體現(xiàn)在如何控制設(shè)備的電磁騷擾發(fā)射以及如何降低設(shè)備對(duì)電磁騷擾的敏感性，還體現(xiàn)在確定設(shè)備的騷擾發(fā)射強(qiáng)度和敏感度的控制程度上。
盡管控制越嚴(yán)格，電磁兼容性的風(fēng)險(xiǎn)就越小，但可能會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品成本的增加。如果控制不夠，就會(huì)發(fā)生嚴(yán)重的相互干擾。
幸運(yùn)的是，一些世界組織投入了大量資源來(lái)研究這些問(wèn)題，并提出了一些標(biāo)準(zhǔn)。我們只需要執(zhí)行這些標(biāo)準(zhǔn)。這些標(biāo)準(zhǔn)不僅規(guī)定了騷擾發(fā)射的強(qiáng)度和敏感性限制，而且規(guī)定了明確的測(cè)試方法。只要我們按照這些標(biāo)準(zhǔn)的要求進(jìn)行測(cè)試，只要測(cè)試結(jié)果符合標(biāo)準(zhǔn)的要求，電子設(shè)備相互干擾的風(fēng)險(xiǎn)就會(huì)大大降低。
因此，電子設(shè)備的電磁兼容性要求主要體現(xiàn)在電磁兼容性試驗(yàn)中。電磁兼容性試驗(yàn)?zāi)M了現(xiàn)實(shí)中可能出現(xiàn)的電磁兼容性問(wèn)題。電磁兼容性試驗(yàn)分為兩個(gè)方面，如圖所示。一是測(cè)試設(shè)備的電磁騷擾發(fā)射，主要檢查設(shè)備對(duì)其他設(shè)備的騷擾情況。該試驗(yàn)稱為EMI試驗(yàn)。試驗(yàn)結(jié)果取決于電子設(shè)備產(chǎn)生的騷擾強(qiáng)度是否低于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的值。EMI測(cè)試是一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目，許多電子設(shè)備不容易通過(guò)。主要原因是大多數(shù)設(shè)計(jì)師不知道電磁騷擾是如何產(chǎn)生的，所以他們不知道如何控制它。
另一種是對(duì)設(shè)備的騷擾敏感性進(jìn)行測(cè)試，主要是檢查設(shè)備對(duì)外部電磁騷擾的抵抗力。這種測(cè)試稱為EMS測(cè)試。測(cè)試結(jié)果表明，當(dāng)電子設(shè)備受到特定類型和強(qiáng)度的電磁騷擾時(shí)，主要技術(shù)指標(biāo)是否會(huì)降低，以確定產(chǎn)品是否合格。對(duì)于硬件工程師來(lái)說(shuō)，一些EMS測(cè)試令人頭痛，例如靜電放電敏感性測(cè)試。
電磁兼容性試驗(yàn)通常在屏蔽暗室中進(jìn)行。所謂的屏蔽暗室是一個(gè)帶有吸收材料的屏蔽室。一方面，屏蔽的作用是防止外部騷擾進(jìn)入房間，影響EMI的測(cè)量，另一方面是防止EMS試驗(yàn)中的內(nèi)部騷擾進(jìn)入外部，對(duì)外部電子設(shè)備部電子設(shè)備產(chǎn)生不利影響。吸波材料是為了防止電磁波在屏蔽室內(nèi)反射，這將導(dǎo)致測(cè)試誤差和測(cè)試結(jié)果的重復(fù)性較差。
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